1. Cheminės sudėties nustatymas(Koks yra silicio metalo 1101 kokybės tikrinimo standartas?)
- Spiktogramos turinys:Metalo silicio 1101 silicio kiekis paprastai turi būti didesnis nei 99,99%, o tai yra ypač didelio grynumo silicio medžiaga, naudojama gaminant produktus, kuriems taikomi aukšti grynumo reikalavimai (pvz., monokristalinis silicis ir polisilicis).
- Geležies kiekis:Geležis, kaip pagrindinis priemaišų elementas, turi būti griežtai kontroliuojama. Geležies kiekis metaliniame silicyje 1101 paprastai turi būti ne didesnis kaip 0,1 %.
- Aliuminio sudėtis:Aliuminio kiekis turi didelę įtaką silicio elektrinėms savybėms ir atsparumui korozijai, o metalo silicio 1101 aliuminio kiekis turi būti mažesnis nei 0,01 %.
- Kalcio kiekis:Kalcis, kaip priemaišos elementas, turės įtakos mechaniniam silicio stiprumui ir ilgaamžiškumui, o jo kiekis turi būti ne didesnis kaip 0,01%.
- Fosforo kiekis:Fosforas yra viena iš kenksmingų silicio priemaišų, kurios turės įtakos silicio elektriniam laidumui, ir paprastai fosforo kiekis turi būti mažesnis nei 0,001%.
- Sieros kiekis:Sieros kiekis turi būti griežtai kontroliuojamas, nes tai padidins silicio trapumą, o sieros kiekis metaliniame silicyje 1101 turi būti ne didesnis kaip 0,001%.
- Anglies kiekis:Anglies priemaišos gali turėti įtakos elektroninėms silicio savybėms, todėl anglies kiekis turi būti mažesnis nei 0,005 %.
- Chloro kiekis:Chloro kiekis turi būti griežtai kontroliuojamas gaminant labai gryną silicį, kuriam paprastai reikia mažiau nei 0,001 %.
3. Fizinio pajėgumo testas(Koks yra silicio metalo 1101 kokybės tikrinimo standartas?)
- Dalelių dydžio pasiskirstymas:Silicio metalas 1101 paprastai perdirbamas į daleles arba miltelius, o jo dalelių dydžio pasiskirstymas turi atitikti vartotojų reikalavimus. Tipiškas dalelių dydis svyruoja nuo 1-10mm, o konkrečioms programoms gali prireikti tikslesnio paskirstymo.
- Tankio ir grynumo vienodumas:Tankis turi būti standartinio diapazono ribose, kad būtų užtikrinta, jog medžiagos viduje nėra akivaizdžių defektų ir kad jos fizinės savybės būtų vienodos.
- Induktyviai susietos plazmos emisijos spektroskopija (ICP-OES):Naudojamas mikroelementams aptikti silicyje, įskaitant priemaišas, tokias kaip geležis, aliuminis ir kalcis.
- Induktyviai susietos plazmos masės spektrometrija (ICP-MS):Tikslus labai mažų priemaišų elementų, tokių kaip fosforas ir siera, kiekių nustatymas.
- Cheminė analizė:Silicio grynumui nustatyti naudojama tradicinė šlapioji cheminė analizė, kuri gali tiksliai nustatyti pagrindinių elementų ir priemaišų kiekį.
- Rentgeno spindulių fluorescencinė spektroskopija (XRF):Greitam pagrindinių elementų ir priemaišų aptikimui silicyje, ypač kokybės kontrolei gamybos procese.
- Dalelių dydžio analizė:Dalelių dydžio pasiskirstymas nustatomas lazeriniu dalelių dydžio analizatoriumi, siekiant užtikrinti, kad jis atitiktų vartotojo reikalavimus.